Microscope à force atomique

Mesure de la topographie d’une surface.

Caractéristiques techniques principales
  • Mode tapping et contact
  • Scanners 5 et 120 µm2
  • Option : potentiel de surface
  • Résolution : apex de la pointe en XY et 0.5 Å en Z
Préparation des échantillons
Films minces sur surfaces, Dépôts de nanoparticules
Conditions d'accès
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