FEI Helios 660 - MEB FIB

Caractéristiques techniques principales

L’HELIOS-660 combine microscopie électronique à balayage (MEB) et usinage ionique de haute précision à l’aide d’un faisceau ionique focalisé (FIB). Il est équipé d’outils d’analyse cristallographique (EBSD) et chimique (EDS) ainsi que de 7 différents détecteurs pour l’imagerie électronique.

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Possibilité de faire des essais mécaniques in-situ.

Conditions d'accès

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