Microscopie électronique - CimeX
Centre interdisciplinaire de microscopie électronique de l’Ecole polytechnique.
Caractéristiques techniques principales
- FEI Titan ETEM Correcteur image 60-300kV (dédié épitaxie par jets moléculaires (MBE) et dépôt chimique en phase vapeur (CVD)
- FEI Titan Themis 80-300 kV (dedié phase liquique et cryo-microscopie)
- JEOL 2010F 200 kV
- HITACHI S4800 FESEM
- FEI Titan Themis Correcteur sonde 80-200kV (équipement partagé avec le C2N et le LPS 30% du temps disponible
- Porte-échantillons cryo (Gatan et Fishone)
- Porte-échantillons chauffant/électrique (Protochips Aduro)
- Porte-échantillons Liquide/électrochimie (Protochips Poseidon)
Préparation des échantillons
- FEI Scios FIB dual beam (équipement partagé avec le C2N et le LPS 30% du temps disponible)
- Ultra-cryomicrotome Leica UC7
- Polissage électrochimique
- Polissage mécanique (Tripode)
- Plasma cleaner
- Meuleuse concave
Conditions d’accessibilité
- Collaborations dans le cadre des projets scientifiques
- Facturation journalière (le coût dépendra de l’équipement utilisé et de la présence d’un ingénieur)
- Prestation de service
Contacts