Microscopie électronique à Balayage, microanalyse XEDS et FIB

La plateforme de Microscopie Electronique MEB-FIB de l’IMPMC propose son expertise en matière de microscopie Electronique à Balayage (MEB) et Faisceau d’Ions Focalisé (FIB) à l’ensemble des chercheurs, industriels, ayant des problématiques de caractérisation des matériaux à l’échelle du micron et du nanomètre. Il est possible de caractériser la morphologie, la composition élémentaire ainsi que les structures tridimensionnelles de multiples matériaux.

Caractéristiques techniques principales

Liste des équipements : 

2 Microscopes

  • FIB Zeiss Neon40EsB+Bruker Quantax XEDS + Atlas 3D Tomography Module & mosaïc aquisition
  • SEM-FEG Zeiss Ultra55 + Bruker Quantax XEDS
Préparation des échantillons
• Système de polissage Ar+ cryo Leica EM TIC 3X • Système mécanique de surfaçage et ciblage Leica EM TXP • Métalliseur/Evaporateur Carbone Haute Résolution • Déshydratation par contournement du point critique Leica EM CPD300
Conditions d'accès
La plateforme est accessible en priorité à tous les personnels habilités de l’IMPMC et à toutes les équipes extérieures (publiques ou privées) avec un accès en priorité aux étudiants en thèse. Les utilisateurs habilités et autonomes ont au préalable suivi